Team NanoTec HR-SCC (125C40-R)
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产品描述

     Team Nanotec HR-SCC AFM probes 是专为轻敲模式高分辨设计的AFM探针。使用EBID技术将高分辨的固态碳锥针尖固定在硅底座以及硅悬臂上。此款探针能够对有比较大的高宽比的结构的样品进行高分辨率的扫描。

     所有探针在发运前都要通过SEM进行质量检查。(可以要求SEM照片)。

     每个包装5根探针。

应用范围:
     高分辨扫描。

技术数据:

Technical Data

Value

Range

Force Constant

40N/m

-

Resonance Frequency

300 kHz

-

Length

125µm

± 15µm

Width(rectangular part)

35 µm

± 3µm

Thickness

-

-

Shape / Cross-section

Rectangular / Trapezoidal

Number of Cantilevers

1

Tip Offset

0

Tip Style

Pyramidal

Tip Height

> 300 nm

Tip Radius

3 nm

Full cone angle

 

Material

Solid Carbon

Chip Size

(industry standard)

3.4 mm×1.55 mm×0.32 mm

Coating (optional)

Aluminum reflex ( ~ 30 nm thick, non-tip side )

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铝反射涂层

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HR-SCC (125C40-R)

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